通信用光電子器件高溫壽命試驗

中科檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環境試驗能力，為通信用光電子器件提供專業的高溫壽命試驗服務。

我們的服務專項服務 通信用光電子器件高溫壽命試驗

通信用光電子器件高溫壽命試驗試驗背景

通過試驗可以發現問題，及時改進和提高電子器件的質量工作實踐表明，電子器件在高溫1000h穩態壽命試驗中，能夠發現問題，及時采取改進措施，從而達到提高產品質量的目的。器件與環境溫度之間的溫差對器件的壽命一定的影響，阿倫尼烏斯方程表示“溫度每升高10攝氏度，器件的壽命會縮短一半”。
通信用光電子器件高溫壽命試驗可確定光電子器件高溫加速老化失效機理和工作壽命。
中科檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環境試驗能力，為通信用光電子器件提供專業的高溫壽命試驗服務。

通信用光電子器件高溫壽命試驗試驗范圍

1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測器和光放大器，這些器件是光發射機、光接收機和光中繼器的關鍵器件，和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統的水平。
2、光無源器件：光無源器件主要有連接器、光纖準直器、耦合器、波分復用器/解復用器、光隔離器、光環形器、光開關、光濾波器、光衰減器等。

通信用光電子器件高溫壽命試驗試驗方法

按以下程序進行試驗：
a）試驗前應對試樣的主要光電特性進行測試；
b）將試樣放進高溫試驗箱內，并使試樣處于工作狀態；
c）按照試驗條件開始試驗，記錄起始時間、試驗溫度和試樣數量；
d）使用監視儀器，從試驗開始到結束監視試驗溫度和工作偏置，以保證全部試樣按條件施加應；
e）在中間測試時將樣品從高溫試驗箱取出，測試完成后放回高溫試驗箱繼續進行試驗。