通信用光電子器件芯片剪切力試驗

通信用光電子器件芯片剪切力試驗

中科檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環境試驗能力，為通信用光電子器件提供專業的芯片剪切力試驗服務。
我們的服務 專項服務 通信用光電子器件芯片剪切力試驗

通信用光電子器件芯片剪切力試驗 試驗背景

對于通信用光電子器件的可靠性來說，芯片剪切應力測試是必要的檢測、監控和質量控制的重要項目。通信用光電子器件芯片剪切力試驗可通過對光電子器件的芯片所加力的測量，觀察在該力作用下產生的失效類型（如果出現失效）以及殘留的芯片附著材料和基片/管座金屬層的外形，來確定光電子器件的芯片和安裝在管座或其他基片上所使用材料和工藝的完整性。
中科檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環境試驗能力，為通信用光電子器件提供專業的芯片剪切力試驗服務。

通信用光電子器件芯片剪切力試驗 試驗范圍

1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測器和光放大器，這些器件是光發射機、光接收機和光中繼器的關鍵器件，和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統的水平。
2、光無源器件：光無源器件主要有連接器、光纖準直器、耦合器、波分復用器/解復用器、光隔離器、光環形器、光開關、光濾波器、光衰減器等。

通信用光電子器件芯片剪切力試驗 試驗方法

按以下程序進行試驗：
a）用測力計進行試驗時，加力方向應與管座或襯底平面平行，并與被試驗的芯片垂直；
b）用芯片接觸工具在與固定芯片的管座或襯底基座垂直的芯片邊沿施加力；
c）在與芯片邊沿開始接觸之后以及在加力期間，接觸工具的相對位置不得垂直移動，以保證與管座/基片或芯片附著材料一直保持接觸。

通信用光電子器件芯片剪切力試驗 試驗標準

GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗方法
GB/T 21194通信設備用的光電子器件的可靠性通用要求
GB/T 18310.3-2001 纖維光學互連器件和無源器件 基本試驗和測量程序 第2-3部分：試驗 靜態剪切力