芯片質量鑒定

芯片質量的好壞直接影響著電子產品的性能。如果芯片質量好，會導致電子產品的性能下降，從而影響用戶的使用體驗。中科檢測開展芯片質量鑒定服務。

我們的服務質量鑒定 芯片質量鑒定

芯片質量鑒定項目背景

芯片質量鑒定標準

GB/T 4937.19-2018 半導體器件機械和氣候試驗方法第19部分：芯片剪切強度
GB/T 36356-2018 功率半導體發光二極管芯片技術規范
GB/T 36357-2018 中功率半導體發光二極管芯片技術規范
GB/T 36356-2018 功率半導體發光二極管芯片技術規范
GB/T 35010.8-2018 半導體芯片產品第8部分：數據交換的EXPRESS格式
GB/T 35010.7-2018 半導體芯片產品第7部分：數據交換的XML格式
GB/T 35010.3-2018 半導體芯片產品第3部分：操作、包裝和貯存指南
GB/T 35010.2-2018 半導體芯片產品第2部分：數據交換格式
GB/T 35010.5-2018 半導體芯片產品第5部分：電學仿真要求
DB35/T 1193-2011 半導體發光二極管芯片
SJ/T 11399-2009 半導體發光二極管芯片測試方法

芯片質量鑒定案例

法院委托我司對涉案的“LED芯片”經過封裝、SMT或焊接工藝后是否存在斷裂的質量問題進行LED芯片質量分析。分析專家組對涉案“LED芯片”的相關資料、現場調查勘驗情況、檢驗結果進行了討論和綜合技術分析，作出以下LED芯片質量鑒定分析意見：
涉案的“LED芯片”經過封裝、SMT后存在芯片斷裂的質量問題，其質量水平不符合《質量保證協議書》的驗收要求，且芯片斷裂的質量問題系其本身存在質量問題所致。