高溫存儲測試

高溫存儲測試

高溫存儲測試對表面污染、引線鍵合不良和氧化層缺陷有很好的篩選作用。中科檢測開展高溫存儲測試服務，具備CMA、CNAS資質認證。
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高溫存儲測試 項目介紹

電子元器件的許多故障是由于體內和表面的各種物理化學變化引起的。當環境溫度升高后，化學反應速率大大加快，故障過程也得到加速。有缺陷的元器件就會暴露。高溫存儲測試對表面污染、引線鍵合不良和氧化層缺陷有很好的篩選作用。

高溫存儲 測試方法

在試驗箱中模擬高溫條件，對元器件施加高溫應力（無電應力），加快部件體內和表面各種物理化學變化的化學反應速率，加速故障過程，使有缺陷的部件盡快暴露；提前消除潛在缺陷。

高溫存儲 測試標準

GB/T 32065.5-2015海洋儀器環境試驗方法 第5部分：高溫貯存試驗
GB/T 2423.2-2008電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法.試驗B:高溫
GJB 150.3-86軍用設備環境試驗方法 高溫試驗
GJB 150.3A-2009軍用裝備實驗室環境試驗方法 第3部分:高溫試驗
GJB 360B-2009電子及電氣元件試驗方法 方法108 高溫壽命試驗
RTCA/DO-160G-2010機載設備環境條件和試驗程序 第4部分：濕度-高度