通信用光電子器件溫度循環試驗

中科檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環境試驗能力，為通信用光電子器件提供專業的機械沖擊試驗服務。

我們的服務專項服務 通信用光電子器件溫度循環試驗

通信用光電子器件溫度循環試驗試驗背景

溫度循環對于電子元器件來說是一種環境應力測試，此外溫度循環還會加速電子管元件的老化。溫度循環加速老化的目的一般不是引起特定性能參數的退化，而是為封裝在組件中的光路的長期機械穩定性提供額外的附加說明。
通信用光電子器件溫度循環試驗可確定光電子器件承受高溫和低溫的能力，以及高溫和低溫交替變化對光電子器件的影響，保證光電子器件封裝內部的光路長期機械穩定性。
中科檢測可靠性實驗中心具備各種通信用光電子器件的環境試驗能力，為通信用光電子器件提供專業的機械沖擊試驗服務。

通信用光電子器件溫度循環試驗試驗范圍

1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測器和光放大器，這些器件是光發射機、光接收機和光中繼器的關鍵器件，和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統的水平。
2、光無源器件：光無源器件主要有連接器、光纖準直器、耦合器、波分復用器/解復用器、光隔離器、光環形器、光開關、光濾波器、光衰減器等。

通信用光電子器件溫度循環試驗試驗方法

按以下程序進行試驗：
a）試驗前對試樣的主要光電特性進行測試；
b）將試樣放置在試驗箱內，其位置不應妨礙試樣周圍空氣的流動；
c）試樣在規定條件下連續完成規定的循環次數；
d）完成規定的循環后，把試樣從試驗箱移出放置24 h，使之達到標準測試條件后進行光電特性測試。
由于電源或設備故障原因，允許中斷試驗。如果中斷的循環次數超過規定循環的總次數的10%時，不管任何理由，試驗應重新從頭開始進行。