拋光片檢測

拋光片是一種用于拋光和打磨的工具，通常由金屬、玻璃、塑料、橡膠、鉆石等不同材料制成。中科檢測提供拋光片檢測服務。

我們的服務建筑材料 拋光片檢測

檢測介紹檢測介紹

拋光片是一種用于拋光和打磨的工具，通常由金屬、玻璃、塑料、橡膠、鉆石等不同材料制成。拋光片常用于金屬、非金屬材料表面的精細磨光和高光亮度處理。在制造過程中，拋光片通常由多層不同顏色的材料疊加壓制而成，其材質包括天然石材、合成石材、塑料等。拋光片也指由石英砂經過提純、拉晶、切片、拋光等工藝處理后形成的半導體硅片，可直接用于制作半導體器件，廣泛應用于存儲芯片與功率器件等，也可作為外延片、SOI硅片的襯底材料。中科檢測是專業的拋光片檢測機構，可開展各種拋光片檢測服務。

檢測項目檢測項目

理化性能：摻雜劑、少數載流子壽命、氧含量、碳含量、晶體完整性、直徑、表面取向及其偏離度、參考面長度(主參考面直徑)、切口尺寸、參考面位置、切口位置
電學性能：導電類型、電阻率、徑向電阻率
幾何參數：彎曲度、翹曲度、總厚度變化、總平整度、局部平整度
其他項目：氧化誘生缺陷、表面金屬、體金屬（鐵）、邊緣輪廓、表面質量、表面粗糙度、密度

檢測標準檢測標準

GB/T 30656-2023 碳化硅單晶拋光片
GB/T 19921-2018 硅拋光片表面顆粒測試方法
GB/T 12964-2018 硅單晶拋光片
SJ/T 11504-2015 碳化硅單晶拋光片表面質量的測試方法
SJ/T 11503-2015 碳化硅單晶拋光片表面粗糙度的測試方法
SJ/T 11490-2015 低位錯密度砷化鎵拋光片蝕坑密度的測量方法
GB/T 30858-2014 藍寶石單晶襯底拋光片
GB/T 4058-2009 硅拋光片氧化誘生缺陷的檢驗方法
GB/T 6624-2009 硅拋光片表面質量目測檢驗方法
GB/T 31351-2014 碳化硅單晶拋光片微管密度無損檢測方法